日本電子發布新的STEM探測器“4DCanvas”

作者： 2017年08月07日來源：互聯網瀏覽量：

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2017年7月，日本電子發布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。　　作為一種新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強度，作為STEM圖像的每個像素的二維(2D)圖案。

2017年7月，日本電子發布新的STEM(掃描透射電子顯微鏡)探測器“4DCanvas”。

　　作為一種新穎的新型探測器，“4DCanvas”可以記錄所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強度，作為STEM圖像的每個像素的二維(2D)圖案。

　　該像素化檢測器的傳感器是具有264×264像素的直接電子檢測CCD。換句話說,這是一款高靈敏度的多通道檢測器。該檢測器的記錄數據為4維(4D)，其軸為STEM像素位置的x和y，檢測器像素位置為u&v。

　　預計未來“4DCanvas”的潛在應用會增加，“4DCanvas”的研發將為電子顯微鏡的用戶提供一個平臺，就像在畫布上自由繪制地圖一樣。

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